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簡(jiǎn)要描述：ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺(tái)，對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化
產(chǎn)品型號(hào)： 廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-09-23訪 問 量：431詳細(xì)介紹
產(chǎn)品描述
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、1000N原位拉伸樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實(shí)驗(yàn)。
△ 載荷范圍：0-1000N
△ 位移分辨率：20nm
△ 加熱模塊：可選
△ 加載功能：拉伸、壓縮、三點(diǎn)彎曲
△ 僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，無(wú)須對(duì)中光闌等復(fù)雜步驟；亮度/對(duì)比度一鍵自適應(yīng)，自動(dòng)/手動(dòng)聚焦;
△ 抽真空時(shí)間小于90秒；標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航，搭配多樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)快速找樣及切換樣品；
△ 信號(hào)采集帶寬10M，掃描速度快；視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，操作流暢，無(wú)卡頓；
△ 四分割背散射電子探測(cè)器（多種成像模式）、二次電子探測(cè)器；BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；
△ 國(guó)內(nèi)生產(chǎn)、銷售、售后一體化服務(wù)；北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設(shè)備演示；
產(chǎn)品咨詢
聯(lián)系人：霍先生
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